過去，量測工件基板上晶片電容高度與斜度時，是以點式感測器進行量測，除了需移動感測器或工件才能量測外，也因量測周期的取樣速度慢，容易產生量測值誤差、量測精度不足的問題。現在，KEYENCE超快速線上輪廓感測器LJ-V系列，可直接於生產線上量測晶片高度，即使目標物位置偏移、難以定位時都可進行量測。相較於傳統品，LJ-V系列擁有240倍超高速取樣速度，可進行輪廓的平均處理、去除因中值濾鏡產生的異常值，大幅縮短了檢查週期，也使得量測值更加穩定化！

一般來說，檢測穩定性和速度會成反比。但KEYENCE成功同時提高了速度檢測穩定性。即使在64kHz（15.6μs）的極短曝光時間內，也具備能確實量測黑色（反射量少）至光澤面（反射量大）的靈敏度與高動態範圍。不僅如此，LJ-V系列更支援16種量測內容與11種量測位置指定，共74種量測模式，只要一台就可進行從IC針腳等小型電子零件到軸承、引擎框架等汽車零件，甚至木材或石膏等建材製品，適用各業界所有製品的各種量測內容。還可將LJ-V系列的量測資料匯入至多功能CAMERA影像處理系統CV-X系列，即可實現『以3D量測資料進行影像處理』。「提升品質」、「防止不良品外流」、「提升良率」的課題，就讓LJ-V系列超高速線上輪廓感測器來解決。